原位多場耦合樣品桿

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù)，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現(xiàn)光、電、力、熱多種原位功能。

產(chǎn)品型號：MST
更新時間：2024-08-21
訪問量：4681
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

產(chǎn)品詳情

    PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位多場耦合樣品桿是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，借助該系統(tǒng)，研究人員可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括光、電、力、熱等），從而對材料或者器件等不同類型樣品實現(xiàn)多重激勵下的原位表征。

    具備多種耦合方式：力-熱、力-電、光-電、光-電-力、光-電-力-熱

    技術(shù)指標(biāo)

電學(xué)測量	加熱控溫
1.包含一個電流電壓測試單元；	1.溫度范圍：室溫至1000℃；
2.電流測量范圍：1nA-30mA；	2.溫度準(zhǔn)確度：優(yōu)于5%；
3.電流分辨率：100fA；	3.控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1℃；
4.電壓輸出范圍：±10V，±150V；	4..軟件控制，數(shù)據(jù)自動保存。
5.軟件自動測量：I-V、I-t

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透射電子顯微鏡內(nèi)不同溫度下的原位充放電研究

In Situ TEM Observations of Discharging/Charging of Solid-State Lithium-Sulfur Batteries at High Temperatures

doi: 10.1002/smll.202001899

力學(xué)操縱	光纖指標(biāo)
1.探針粗細調(diào)方式：全軟件操控；	1.光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡多種方案可選；
2.粗調(diào)范圍：XY方向2.5mm，Z方向1.5mm；	2.光纖快拆接口：SMA、FC等；
3.細調(diào)范圍：XY方向18um，Z方向1.5um；	3.可外接光源；
4.4.細調(diào)分辨率：XY方向0.4nm，Z方向0.04nm；	4.可外接光譜儀；

    產(chǎn)品選型

    原位多場耦合樣品桿具有單傾、雙傾（JEOL）兩個版本；

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號樣品桿，支持定制。

    國內(nèi)部分用戶

北京理工大學(xué).jpg 青海大學(xué).jpg 廈門大學(xué).jpg 上海交通大學(xué).png 燕山大學(xué).jpg 浙江大學(xué).png

    典型案例

    1、加熱芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位加熱電學(xué)實驗；

    2、加熱芯片+力學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的原位高溫力學(xué)實驗；

    3、電學(xué)芯片+電學(xué)探針-------＞透射電鏡內(nèi)的三端器件測量實驗；

    4、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的電制發(fā)光現(xiàn)象研究；

    5、電學(xué)芯片+光纖單元-------＞透射電鏡內(nèi)的原位光電現(xiàn)象研究。

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