原位加熱/電學樣品桿

【產(chǎn)品概述】PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。

產(chǎn)品型號：Almighty
更新時間：2024-08-21
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

產(chǎn)品詳情

PicoFemto系列透射電子顯微鏡原位加熱/電學樣品桿是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)安裝MEMS工藝制成的加熱芯片和電學測量芯片。加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質(zhì)測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

技術指標

電學測量	加熱控溫
1.包含一個電流電壓測試單元；	1.溫度范圍：室溫至1200℃；
2.電壓輸出：Max ±200V， Min ±5 uV；	2.加熱功率：Max 30W；
3.電流測量：Max ±1.5 A， Min ±100fA；	3.控溫穩(wěn)定性：優(yōu)于±0.1℃；
4.恒壓或恒流模式	4.PID/Pulse/Manual三種控溫方式；
5.軟件控制，數(shù)據(jù)自動保存。	5.軟件控制，數(shù)據(jù)自動保存。

    產(chǎn)品選型

    原位加熱/電學樣品桿具有單傾、雙傾兩個版本，電極數(shù)可選；同時可拓展真空轉(zhuǎn)移芯片桿、低溫芯片桿，用戶可根據(jù)實驗需求自行選擇。

    澤攸科技提供適配Thermofisher/FEI（賽默飛）、JEOL（日本電子）、Hitachi（日立）各型號透射電子顯微鏡及極靴的不同型號芯片式樣品桿，支持定制。

    國內(nèi)部分用戶

南方科技大學.png 山東大學.jpg 物理所.jpg 燕山大學.jpg

    典型案例

    1、透射電鏡內(nèi)的原位加熱實驗；

    2、透射電鏡內(nèi)的原位加電實驗（可選針對敏感樣品的真空轉(zhuǎn)移方案）；

    3、透射電鏡內(nèi)的原位熱電耦合實驗；

    4、透射電鏡內(nèi)的低溫電學實驗；

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原位加熱/電學樣品桿