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查看更多ZEM15國產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),可同時(shí)搭配二次電子探測(cè)器,散射電子探測(cè)器,集成式能譜儀及多種原位樣品臺(tái),滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測(cè)需求,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛.
查看更多ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能,體積小巧,操作簡便,安裝無需特殊環(huán)境,只需找一張桌子,供電即可工作.
查看更多ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化,拓展了掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。
查看更多ZEM20臺(tái)式掃描電鏡操作簡便,僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌。 信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品。 豐富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等)。
查看更多原位掃描電鏡(SEM)基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡,集成原位拉伸樣品臺(tái),對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化,拓展了掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。
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