1. SEM技術(shù)概述

SEM通過電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)，如二次電子和背散射電子，來構(gòu)建樣品表面的圖像。這種顯微鏡能夠提供納米級(jí)別的高分辨率圖像，并具備較大的景深，使得樣品的三維形貌得以清晰展示。

1.1 工作原理

SEM的工作原理類似于在暗室中使用手電筒掃描物體。電子束代替手電筒，電子探測(cè)器代替眼睛，而觀察屏幕和照相機(jī)則作為圖像的存儲(chǔ)器。

1.2 分辨率與放大倍數(shù)

SEM的分辨率通常在3-0.5納米之間，最高可達(dá)0.4納米。放大倍數(shù)可從10倍至30萬倍不等。圖像上的刻度條用于測(cè)量樣品特征的實(shí)際大小。

2. SEM的應(yīng)用

SEM廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)和法醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。它可用于觀察樣品形態(tài)、分析物相、進(jìn)行微區(qū)元素分析等。

2.1 材料科學(xué)

在材料科學(xué)中，SEM用于檢測(cè)金屬、合金、陶瓷、聚合物等材料，對(duì)納米技術(shù)和高科技發(fā)展至關(guān)重要。

2.2 生物科學(xué)

在生物科學(xué)領(lǐng)域，SEM可用于研究昆蟲、動(dòng)物組織、細(xì)菌等，適用于昆蟲學(xué)、植物科學(xué)、細(xì)胞研究等領(lǐng)域。

2.3 地質(zhì)學(xué)

在地質(zhì)學(xué)中，SEM用于土壤和巖石樣本的形態(tài)和成分分析，是采礦業(yè)的重要工具。

2.4 醫(yī)學(xué)科學(xué)

醫(yī)學(xué)研究人員使用SEM比較血細(xì)胞和組織樣本，以確定病因或研究治療方法。

2.5 法醫(yī)學(xué)

在法醫(yī)學(xué)中，SEM用于檢查和比較犯罪現(xiàn)場(chǎng)的證據(jù)，如金屬碎片、油漆、毛發(fā)和纖維。

3. SEM與光學(xué)顯微鏡的區(qū)別

與光學(xué)顯微鏡相比，SEM在分辨率、景深和顯微分析方面具有顯著優(yōu)勢(shì)。SEM的分辨率遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡，且景深更大，能夠提供樣品的三維信息。

4. SEM的技術(shù)限制

SEM存在一些限制，如對(duì)潮濕或液體樣品的成像困難、需要對(duì)非導(dǎo)電樣品鍍導(dǎo)電膜、無法形成彩色圖像、難以精確測(cè)量高度、無法成像表層以下結(jié)構(gòu)、無法原子成像、無法成像帶電分子等。

5. SEM的結(jié)構(gòu)

SEM的結(jié)構(gòu)包括電子槍、真空系統(tǒng)、水冷系統(tǒng)、鏡筒、樣品倉、探測(cè)器和成像系統(tǒng)。電子槍產(chǎn)生并加速電子束，真空系統(tǒng)維持所需的高真空環(huán)境，水冷系統(tǒng)保持磁透鏡的溫度穩(wěn)定。

5.1 電子槍

電子槍是SEM的核心部分，可以是熱電子槍或場(chǎng)發(fā)射電子槍。熱電子槍使用鎢燈絲或六硼化鑭晶體，而場(chǎng)發(fā)射電子槍使用尖銳的單晶鎢線。

5.2 真空系統(tǒng)

真空系統(tǒng)確保電子束在到達(dá)樣品前不受氣體分子的散射，從而保持高分辨率。

5.3 電磁透鏡

電磁透鏡用于聚焦電子束，與光學(xué)透鏡類似，但使用磁場(chǎng)而非玻璃透鏡。

5.4 探測(cè)器

探測(cè)器收集電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)，如二次電子和背散射電子。

6. 電子束與樣品的相互作用

電子束與樣品相互作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生多種信號(hào)，包括二次電子、背散射電子和X射線等。

7. SEM圖像的解釋

SEM圖像由樣品表面的點(diǎn)組成，每個(gè)點(diǎn)代表樣品上電子束的束斑。圖像的襯度受到樣品形貌、成分和取向的影響。

7.1 二次電子圖像

二次電子圖像顯示樣品表面的形貌特征，邊緣結(jié)構(gòu)通常更明亮。

7.2 背散射電子圖像

背散射電子圖像提供樣品次表面以下的信息，與樣品的平均原子序數(shù)有關(guān)。

SEM是一種功能強(qiáng)大的顯微鏡，能夠提供高分辨率的樣品表面圖像。盡管存在一些技術(shù)限制，但它在多個(gè)科學(xué)領(lǐng)域中仍然是重要的研究工具。

澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡

掃描電子顯微鏡，國產(chǎn)掃描電鏡，掃描電鏡多少錢一臺(tái)，臺(tái)式掃描電鏡，透射電鏡原理，工業(yè)掃描電鏡，電子探針，化學(xué)成分，EDS能譜儀，電子顯微鏡，原位樣品桿，透射電鏡樣品桿，臺(tái)階儀，光柵尺，電子束光刻機(jī)，無掩膜光刻機(jī)，SEM原位，TEM原位：掃描電子顯微鏡-產(chǎn)品中心-澤攸科技