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澤攸科技JS系列高精度臺階儀是一款先進的自主研發(fā)的國產(chǎn)臺階儀，采用了先進的掃描探針技術(shù)。通過掃描探針在樣品表面上進行微觀測量，臺階儀能夠準確獲取表面形貌信息。其工作原理基于探針與樣品表面的相互作用力，通過測量探針的微小位移，實現(xiàn)對表面高度差異的檢測。其性能特點包括：1.高精度：臺階儀可實現(xiàn)納米級別的測量，能夠揭示微觀結(jié)構(gòu)的細節(jié)和特征。2.大行程超精密平面掃描：具備70mm的大行程，優(yōu)于20nm/2mm，能夠高效地獲取表面形貌數(shù)據(jù)。3.大帶寬大行程納米微動臺：擁有80um的大行...

近年來，中國科技創(chuàng)新實力逐漸嶄露頭角，而在電子顯微鏡領域，澤攸科技（ZEPTOOLS）的ZEM系列臺式掃描電鏡正促進行業(yè)的新風向。自2019年10月16日在全國電子顯微學會年會上展示了國內(nèi)自主研發(fā)的國產(chǎn)臺式掃描電鏡ZEM15以來，該系列掃描電鏡憑借其出色的性能和自主研發(fā)的技術(shù)特色，逐漸在國內(nèi)外市場上贏得了廣泛認可和青睞。ZEM15臺式掃描電鏡展會現(xiàn)場ZEM系列臺式掃描電鏡的問世標志著中國在電子顯微鏡領域邁出了重要的一步。作為全球電鏡市場上的新興科技品牌，澤攸科技不僅僅是帶來了...

二維材料轉(zhuǎn)移臺是一種重要的設備，主要用于二維材料的精確轉(zhuǎn)移和定位。準備階段：確保二維材料轉(zhuǎn)移臺放置在穩(wěn)定的工作臺上，避免振動和干擾。檢查電源和連接線路，確保設備正常供電。根據(jù)需要選擇合適的二維材料和目標基底。安裝和固定基底：使用雙面膠帶或真空泵將目標基底固定在襯底固定臺上。確?；坠潭ɡ喂?，避免在轉(zhuǎn)移過程中發(fā)生移動。對準和定位：通過顯微鏡觀察，找到Si襯底上的電極圖案或已經(jīng)轉(zhuǎn)移好的二維材料。將目標位置固定在顯微鏡視野中央，以便進行精確轉(zhuǎn)移。二維材料的轉(zhuǎn)移：使用PDMS（聚二甲...

全自動臺階儀的測量精度和重復性是評估其性能的重要指標。通常，測量精度要求全自動臺階儀能夠準確地測量出微小的高度差，而重復性則要求其能夠保證測量結(jié)果的穩(wěn)定性。為了評估全自動臺階儀的測量精度，可以采用已知準確高度的標準樣品進行測試，并比較測量結(jié)果與標準樣品的實際高度差。此外，可以通過多次重復測量同一樣品的高度，計算測量結(jié)果的平均值和標準差，以評估全自動臺階儀的重復性。在實際應用中，全自動臺階儀的測量精度和重復性受到多種因素的影響，如儀器的設計、制造工藝、操作環(huán)境、操作人員技能等。...

半自動臺階儀可以測量材料的表面形貌，包括表面粗糙度、波紋度、臺階高度等參數(shù)，用于研究材料的表面特性。可以測量薄膜的厚度，對于半導體、光電子、微電子等領域的研究和生產(chǎn)具有重要意義?？梢詸z測材料表面的缺陷，如裂紋、劃痕、凹槽等，用于產(chǎn)品質(zhì)量控制和失效分析。半自動臺階儀在半導體行業(yè)中的優(yōu)勢：1.高精度測量：半自動臺階儀采用測量技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的測量結(jié)果，滿足半導體行業(yè)對表面形貌和尺寸精度的嚴格要求。2.高效測量：半自動臺階儀采用自動化測量方式，能夠快速、準確地測量半導體表面的臺...

數(shù)字圖像處理技術(shù)已廣泛應用于各個領域。其中，桌面型掃描電鏡作為一款強大的微觀觀測工具，在材料科學、生物學、醫(yī)學等領域發(fā)揮著越來越重要的作用。在數(shù)字化時代，如何利用它的數(shù)字圖像處理技術(shù)，提高觀測的準確性和效率，成為了重要問題。一、數(shù)字圖像處理技術(shù)概述桌面型掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面產(chǎn)生信號的顯微鏡。它具有較高的分辨率和放大倍數(shù)，能夠清晰地觀察樣品的微觀結(jié)構(gòu)。數(shù)字圖像處理技術(shù)是重要組成部分，它通過對采集到的圖像進行一系列算法處理，如去噪、增強、分割等操作，提取出有用的信...

納米力學臺是一種高精度的材料性能測試工具，主要用于研究材料的力學性能和變形行為，包括納米材料、生物材料、復合材料等各種材料的力學性能。可以用于測試材料的彈性模量、屈服強度、斷裂強度等力學性能，幫助研究者深入理解材料的性質(zhì)和行為?？梢栽挥^察和記錄納米材料的力學性能，結(jié)合掃描電鏡等其他測試手段，可以深入研究材料的變形行為和微觀失效機制。好處：1.精度高：可以用于研究納米級的力學行為，定位精度達到納米級別，對于材料的力學性能分析具有很高的精度。2.穩(wěn)定性好：具有很高的運動控制精度...

原位掃描電鏡（SEM）的應用原理主要是利用電子成像來觀察樣品的表面形貌。當一束極細的高能電子束在試樣上掃描時，與試樣相互作用產(chǎn)生各種物理信息，如二次電子、背散射電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、透射電子等。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。SEM的分辨率高于光學顯微鏡的分辨率，因為電子的波長遠小于光的波長。此外，SEM還可以進行樣品表面的元素分析，如C、S、N等元素的分布情況。在具體應用中，原位掃描電鏡可以用于材料科學、生物學、醫(yī)學等領域的研究和...